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超声波陶瓷测厚仪

Leeb352型超声波陶瓷测厚仪利用超声波原理可以对任何超声波良导体材料厚度进行测量，如金属类、塑料类、陶瓷类、玻璃类。leeb352超声波测厚仪在TT100基础上增加了背光功能，适合在光线不好的环境中进行测量。
对各种板材和加工零件作*测量；
对设备中各种管道和压力容器进行监测；
监测使用过程中受腐蚀后的减薄程度；
广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空航天等各个领域。
Leeb352型超声波陶瓷测厚仪功能与特点
自动校对零点：可对系统误差进行修正
耦合提示、低电压提示
关机方式：自动关机（无操作三分钟后）
声速固定：可利用已知厚度试块测量声速
数据存储：可以存储10个厚度值
带打印。可现场打印数据。使测量结果客观公正。
工作原理
超声波测厚仪根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过*测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。
Leeb352型超声波陶瓷测厚仪技术参数
测量范围0.8—300mm（钢，由探头决定）
显示分辨率0.1mm
声速范围1000-9900m/s
工件表面温度-10~+60
显示四位液晶数字显示
测量精度±(1%H+0.1)mm,H为实际厚度值
管材测量下限Ф20mmX3.0mm(5PФ10探头,钢材)
操作时间内置锂电池，可连续工作10小时以上
外形尺寸130×70×25(mm)(主机)
重量约0.3㎏（主机）
Leeb352型超声波陶瓷测厚仪标准配置
leeb352主机；
内置热敏打印机
探头：5PФ10|5PФ10/90；
内置锂电池；
耦合剂；
随机文件；
手提包装箱。
可选配
超声波测厚仪探头；
耦合剂。